SEMICONDUCTOR ATLAS

日立ハイテク

Hitachi High-Tech

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日本親会社:東証 6501CD計測欠陥検査エッチング装置

電子線で微細寸法を測るCD-SEM、ウエハ検査、導体エッチングを扱う。装置が同じ電子線を使っていても、寸法計測と広域欠陥探索は要求が異なる。

日立製作所傘下の事業として捉え、親会社の連結数値をそのまま半導体計測の業績に置き換えない。

CD-SEMウエハ表面・暗視野検査導体エッチング
出典 日立ハイテク · 公式資料
業績を動かすもの
  • 寸法管理の厳格化
  • 新材料・新形状の計測
  • 導体加工の工程採用

確認するKPI

  • 半導体関連事業の売上開示
  • CD-SEM世代更新
  • 計測時間・損傷と再現性
競争優位とリスクを見る

電子線制御と微細形状の測定ノウハウ。

  • 測定対象の三次元化
  • 光学等との使い分け
  • 親会社開示の粒度
決算・取材で確かめたいこと
  • 表面CDでは捉えられない内部形状をどう補完するか

業績ドライバー・競争優位・質問は、公開資料をもとにした分析の着眼点です。売買推奨や業績予想ではありません。

この会社の工程を初歩から学ぶ

この版では相手先まで確認できた接続線を収録していません。取引がないという意味ではありません。

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