SEMICONDUCTOR ATLAS

Park Systems

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韓国KOSDAQ: 140860AFM計測マスク修復

微細な探針で表面を調べる原子間力顕微鏡AFMを量産ウエハ計測やマスク修復に展開する。光学式形状計測等も組み合わせ、表面の高さ・形状を扱う。

高分解能だから広域高速検査を全て置き換えるとは限らない。サンプリングする対象と工程内の測定位置を確認する。

量産用AFMマスク修復先端実装AFM・WLI
出典 Park Systems · 公式資料
業績を動かすもの
  • ナノ表面形状
  • マスク修復
  • 先端実装の高さ計測

確認するKPI

  • 研究用と産業用構成
  • 量産採用
  • 測定時間と再現性
競争優位とリスクを見る

探針制御と自動計測・解析。

  • 計測速度制約
  • 他方式との競争
  • 量産採用の時間
決算・取材で確かめたいこと
  • AFMが不可欠となる測定対象はどこか

業績ドライバー・競争優位・質問は、公開資料をもとにした分析の着眼点です。売買推奨や業績予想ではありません。

この会社の工程を初歩から学ぶ

この版では相手先まで確認できた接続線を収録していません。取引がないという意味ではありません。

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