SEMICONDUCTOR ATLAS

東レエンジニアリング先端半導体MIテクノロジー

TASMIT

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日本親会社グループ:東証 3402ウエハ検査

電子線によるパターンと設計データの比較、光学検査による良品比較などの装置を扱う。マスク、ウエハ、電気テストでは比較する対象が違うことを意識する。

欠陥を発見する方式と顧客が必要な検出感度・速度を対応させる。全検査市場の成長をそのまま当てはめない。

NGR電子線パターン検査DSI光学ウエハ検査
出典 東レエンジニアリング先端半導体MIテクノロジー(TASMIT) · 公式資料
業績を動かすもの
  • 微細パターン不良
  • 複雑な実装・ウエハ外観
  • 工程モニタリング

確認するKPI

  • 方式別採用
  • 検査速度・感度
  • 量産工程への組込み
競争優位とリスクを見る

比較アルゴリズムと光学・電子線の応用知識。

  • 用途集中
  • 大手検査装置との競争
  • 子会社開示制限
決算・取材で確かめたいこと
  • 設計比較と良品比較はどの欠陥を補完し合うか

業績ドライバー・競争優位・質問は、公開資料をもとにした分析の着眼点です。売買推奨や業績予想ではありません。

この会社の工程を初歩から学ぶ

この版では相手先まで確認できた接続線を収録していません。取引がないという意味ではありません。

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