SEMICONDUCTOR ATLAS
KLA
KLA
製造途中の欠陥を見つけ、原因を絞り、工程が安定しているかを監視する装置を供給する。良否を電気信号で判定する最終テスタとは目的も測定対象も異なる。
新世代の立上げで必要な歩留まり学習と、量産中の検査頻度を分けて評価する。検査強度が上がっても全ウエハ全点検査になるとは限らない。
光学・電子線検査欠陥レビュー計測・工程管理
業績ドライバー・競争優位・質問は、公開資料をもとにした分析の着眼点です。売買推奨や業績予想ではありません。
この会社の工程を初歩から学ぶ
この版では相手先まで確認できた接続線を収録していません。取引がないという意味ではありません。