SEMICONDUCTOR ATLAS

日本マイクロニクス

Micronics Japan

マップで企業間の関係を見る →
日本東証: 6871プローブカード検査装置

ウエハ上の電極とテスタをつなぐプローブカードを中心に、検査装置も扱う。カードは試験対象の端子配置や同時測定数に適合させる必要がある。

メモリ需要を見る際も、ビット需要とカード需要は同じではない。世代変更、ウエハ投入量、接触子の寿命、カード能力を分解する。

メモリ・ロジック用プローブカードプローバ・テスタ
出典 日本マイクロニクス · 公式資料
業績を動かすもの
  • メモリ世代移行
  • HBMを含む試験要求
  • カード生産能力

確認するKPI

  • プローブカード事業売上
  • メモリ・非メモリ構成
  • 設備増強と製造歩留まり
競争優位とリスクを見る

微細接触技術と顧客の量産試験条件への適合。

  • 特定用途投資の変動
  • 増産立上げ負担
  • 並列化の影響
決算・取材で確かめたいこと
  • 出荷増と単価上昇の内訳は何か
  • 生産能力追加が利益化する時期はいつか

業績ドライバー・競争優位・質問は、公開資料をもとにした分析の着眼点です。売買推奨や業績予想ではありません。

この会社の工程を初歩から学ぶ

この版では相手先まで確認できた接続線を収録していません。取引がないという意味ではありません。

同じ工程に関わる企業