SEMICONDUCTOR ATLAS
日本マイクロニクス
Micronics Japan
ウエハ上の電極とテスタをつなぐプローブカードを中心に、検査装置も扱う。カードは試験対象の端子配置や同時測定数に適合させる必要がある。
メモリ需要を見る際も、ビット需要とカード需要は同じではない。世代変更、ウエハ投入量、接触子の寿命、カード能力を分解する。
メモリ・ロジック用プローブカードプローバ・テスタ
業績ドライバー・競争優位・質問は、公開資料をもとにした分析の着眼点です。売買推奨や業績予想ではありません。
この会社の工程を初歩から学ぶ
この版では相手先まで確認できた接続線を収録していません。取引がないという意味ではありません。